နူးညံ့မှုကို တိုင်းတာခြင်းဆိုသည်မှာ သတ်မှတ်ထားသော စမ်းသပ်ကွက်လပ်အကျယ်အောက်တွင်၊ ပန်းကန်ပုံသဏ္ဍာန် စမ်းသပ်ကိရိယာတစ်ခုသည် နမူနာကို ကွက်လပ်၏ အနက်တစ်ခုအတွင်းသို့ အပေါ်အောက် ဖိသွင်းသည့် အခြေအနေကို ရည်ညွှန်းသည်။ နမူနာ၏ ကွေးညွှတ်အားကို ခံနိုင်ရည်ရှိမှုနှင့် နမူနာနှင့် ကွက်လပ်ကြားရှိ ပွတ်တိုက်အားတို့၏ ဗက်တာပေါင်းလဒ်ကို တိုင်းတာသည်။ ဤတန်ဖိုးသည် စက္ကူ၏ နူးညံ့မှုကို ကိုယ်စားပြုသည်။
ဤနည်းလမ်းသည် တွန့်ခြင်းဒဏ်ခံနိုင်သော အိမ်သာသုံးစက္ကူအမျိုးအစားအမျိုးမျိုးနှင့် ၎င်း၏ဆင်းသက်လာသောထုတ်ကုန်များအပြင် နူးညံ့မှုလိုအပ်ချက်ရှိသော အခြားစက္ကူထုတ်ကုန်များအတွက်ပါ သက်ဆိုင်ပါသည်။ ခေါက်ထားသော သို့မဟုတ် ဖောင်းကြွထားသော မျက်နှာသုတ်ပုဝါများ၊ သို့မဟုတ် ပိုမိုမာကျောသောစက္ကူများနှင့် သက်ဆိုင်ခြင်းမရှိပါ။
၁။ အဓိပ္ပာယ်ဖွင့်ဆိုချက်
နူးညံ့မှုဆိုသည်မှာ စံဖြင့်သတ်မှတ်ထားသောအခြေအနေများအောက်တွင် ပန်းကန်ပုံသဏ္ဍာန်တိုင်းတာသည့်စမ်းသပ်ကိရိယာကို အကျယ်နှင့်အလျားအတိုင်းအတာတစ်ခုအထိ အကွာအဝေးတစ်ခုအတွင်း ဖိသွင်းသောအခါ နမူနာ၏ကွေးညွှတ်ခုခံမှုနှင့် နမူနာနှင့်ကွာဟချက်အကြားပွတ်တိုက်အားတို့၏ ဗက်တာပေါင်းလဒ်ကို ရည်ညွှန်းသည် (အားယူနစ်မှာ mN ဖြစ်သည်။) ဤတန်ဖိုးနည်းလေ နမူနာပိုပျော့လေဖြစ်သည်။
၂။ တူရိယာများ
တူရိယာသည် ၎င်းကို လက်ခံကျင့်သုံးသည်YYP-1000 နူးညံ့မှုစမ်းသပ်ကိရိယာ,မိုက်ခရိုကွန်ပျူတာ စက္ကူနူးညံ့မှု တိုင်းတာသည့်ကိရိယာဟုလည်း လူသိများသည်။
ကိရိယာကို ညီညာပြီး တည်ငြိမ်သောစားပွဲပေါ်တွင် တပ်ဆင်ထားသင့်ပြီး ပြင်ပအခြေအနေများကြောင့် တုန်ခါမှုများ မဖြစ်စေသင့်ပါ။ ကိရိယာ၏ အခြေခံကန့်သတ်ချက်များသည် အောက်ပါလိုအပ်ချက်များနှင့် ကိုက်ညီရမည်။
၃။ တူရိယာ ကန့်သတ်ချက်များနှင့် စစ်ဆေးခြင်း
၃.၁ အပေါက်အကျယ်
(၁) တူရိယာစမ်းသပ်ခြင်းအတွက် အပေါက်အကျယ်အပိုင်းအခြားကို အဆင့်လေးဆင့်ခွဲခြားသင့်သည်- ၅.၀ မီလီမီတာ၊ ၆.၃၅ မီလီမီတာ၊ ၁၀.၀ မီလီမီတာ နှင့် ၂၀.၀ မီလီမီတာ။ အနံအမှားသည် ±၀.၀၅ မီလီမီတာထက် မပိုစေရ။
(၂) အပေါက်အကျယ်နှင့် အနံအမှားအပြင် နှစ်ဖက်ကြားရှိ parallelism စစ်ဆေးမှုကို vernier caliper (0.02 mm graduation ဖြင့်) ကို အသုံးပြု၍ တိုင်းတာသည်။ အပေါက်၏ အစွန်းနှစ်ဖက်နှင့် အလယ်တွင်ရှိသော အကျယ်၏ ပျမ်းမျှတန်ဖိုးသည် တကယ့်အပေါက်အကျယ်ဖြစ်သည်။ ၎င်းနှင့် အမည်ခံအပေါက်အကျယ်ကြား ကွာခြားချက်သည် ±0.05 mm ထက် နည်းသင့်သည်။ တိုင်းတာမှုသုံးခုကြားတွင် အများဆုံးနှင့် အနည်းဆုံးတန်ဖိုးများကြား ကွာခြားချက်မှာ parallelism error တန်ဖိုးဖြစ်သည်။
၃.၂ ပြားပုံသဏ္ဌာန် စမ်းသပ်ကိရိယာ၏ ပုံသဏ္ဍာန်
အရှည်: ၂၂၅ မီလီမီတာ; အထူ: ၂ မီလီမီတာ; ဖြတ်တောက်သည့်အနား၏ စက်ဝိုင်းအချင်းဝက်: ၁ မီလီမီတာ။
၃.၃ စမ်းသပ်ကိရိယာ၏ ပျမ်းမျှခရီးသွားအမြန်နှုန်းနှင့် စုစုပေါင်းခရီးသွားအကွာအဝေး
(၁) ပျမ်းမျှခရီးသွားအမြန်နှုန်းနှင့် စမ်းသပ်ကိရိယာ၏ စုစုပေါင်းခရီးသွားအကွာအဝေး၊ ပျမ်းမျှခရီးသွားအမြန်နှုန်း- (၁.၂ ± ၀.၂၄) မီလီမီတာ/စက္ကန့်၊ စုစုပေါင်းခရီးသွားအကွာအဝေး- (၁၂ ± ၀.၅) nm။
(၂) တိုင်းတာသည့်ဦးခေါင်း၏ စုစုပေါင်းခရီးသွားအကွာအဝေးနှင့် ပျမ်းမျှခရီးသွားအမြန်နှုန်းကို စစ်ဆေးခြင်း
① ပထမဦးစွာ၊ probe ကို ခရီးသွားအကွာအဝေး၏ အမြင့်ဆုံးနေရာတွင် ထားပါ၊ အမြင့်တိုင်းကိရိယာကို အသုံးပြု၍ အပေါ်မျက်နှာပြင်မှ စားပွဲမျက်နှာပြင်အထိ အမြင့် h1 ကို တိုင်းတာပါ၊ ထို့နောက် probe ကို ခရီးသွားအကွာအဝေး၏ အနိမ့်ဆုံးနေရာတွင် နှိမ့်ချပါ၊ အပေါ်မျက်နှာပြင်နှင့် စားပွဲမျက်နှာပြင်ကြား အမြင့် h2 ကို တိုင်းတာပါ၊ ထို့နောက် စုစုပေါင်း ခရီးသွားအကွာအဝေး (မီလီမီတာဖြင့်) မှာ H=h1-h2 ဖြစ်သည်။
② အမြင့်ဆုံးနေရာမှ အနိမ့်ဆုံးနေရာသို့ တိုင်းတာရန် ကြာသောအချိန်ကို တိုင်းတာရန် အချိန်တိုင်းနာရီကို အသုံးပြုပါ၊ တိကျမှု ၀.၀၁ စက္ကန့်။ ဤအချိန်ကို t ဟုဖော်ပြပါ။ ထို့နောက် ပျမ်းမျှရွေ့လျားမှုအမြန်နှုန်း (mm/s) မှာ- V=H/t ဖြစ်သည်။
၃.၄ အပေါက်ထဲသို့ ထည့်သွင်းသည့် အနက်
① ထည့်သွင်းသည့်အနက်သည် ၈ မီလီမီတာ ရှိသင့်သည်။
② အပေါက်ထဲသို့ ထည့်သွင်းမှုအနက်ကို စစ်ဆေးခြင်း။ ဗာနီယာ ကယ်လီပါကို အသုံးပြု၍ ပြားပုံသဏ္ဌာန် စမ်းသပ်ကိရိယာ၏ အမြင့် B ကို တိုင်းတာပါ။ ထည့်သွင်းမှုအနက်မှာ- K=H-(h1-B) ဖြစ်သည်။
၄။ နမူနာစုဆောင်းခြင်း၊ ပြင်ဆင်ခြင်းနှင့် လုပ်ဆောင်ခြင်း
① စံနည်းလမ်းအတိုင်း နမူနာများကိုယူ၍ နမူနာများကို စီမံဆောင်ရွက်ကာ စံအခြေအနေများအောက်တွင် စမ်းသပ်ပါ။
② ထုတ်ကုန်စံနှုန်းတွင် သတ်မှတ်ထားသော အလွှာအရေအတွက်အရ နမူနာများကို ၁၀၀ မီလီမီတာ × ၁၀၀ မီလီမီတာ စတုရန်းအပိုင်းအစများအဖြစ် ဖြတ်ယူပြီး အလျားလိုက်နှင့် ထောင့်ဖြတ် ဦးတည်ရာများကို မှတ်သားပါ။ ဦးတည်ရာတစ်ခုစီတွင် အရွယ်အစား သွေဖည်မှုသည် ±၀.၅ မီလီမီတာ ဖြစ်သင့်သည်။
၃ PY-H613 နူးညံ့မှုစမ်းသပ်ကိရိယာ၏ လက်စွဲအတိုင်း ပါဝါထောက်ပံ့မှုကို ချိတ်ဆက်ပါ၊ သတ်မှတ်ထားသောအချိန်အတွက် ကြိုတင်အပူပေးပါ၊ ထို့နောက် ကိရိယာ၏ သုညအမှတ်ကို ချိန်ညှိပါ၊ ထို့နောက် ထုတ်ကုန်ကတ်တလောက်၏ လိုအပ်ချက်များအလိုက် အပေါက်အကျယ်ကို ချိန်ညှိပါ။
၄။ နမူနာများကို နူးညံ့မှုစမ်းသပ်စက်ပလက်ဖောင်းပေါ်တွင်တင်ပြီး အပေါက်နှင့် တတ်နိုင်သမျှ ညီမျှအောင်ပြုလုပ်ပါ။ အလွှာများစွာပါသော နမူနာများအတွက်၊ ၎င်းတို့ကို အပေါ်အောက်ပုံစံဖြင့် စီထားပါ။ ကိရိယာ၏ peak tracking switch ကို peak အနေအထားတွင်ထားရှိပြီး start ခလုတ်ကိုနှိပ်လိုက်သောအခါ ကိရိယာ၏ plate-shaped probe သည် စတင်ရွေ့လျားပါသည်။ အကွာအဝေးတစ်ခုလုံးရွေ့လျားပြီးနောက်၊ မျက်နှာပြင်မှ တိုင်းတာမှုတန်ဖိုးကိုဖတ်ပြီးနောက် နောက်နမူနာကိုတိုင်းတာပါ။ အလျားလိုက်နှင့် transverse ဦးတည်ချက်များတွင် data point ၁၀ ခုကို အသီးသီးတိုင်းတာပါ၊ သို့သော် တူညီသောနမူနာအတွက် တိုင်းတာမှုကို ထပ်မံမပြုလုပ်ပါနှင့်။
ပို့စ်တင်ချိန်: ၂၀၂၅ ခုနှစ်၊ ဇွန်လ ၃ ရက်




